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II. Nachweis der Piezoelektrizität 
Das Verhältnis zwischen Kristallkapazität C und Schaltkapazität C0 
wird günstiger, wenn man gemäß Fig. 6 nicht nur 1 oder 2 Platten, wie es 
nach Fig. 1 oder 5 geschieht, sondern wenn man mehrere Platten parallel 
schaltet. Man erhält dann bei n parallel geschalteten Kristallplatten zwar 
die H-fache Kapazität, da aber gleichzeitig die erzeugten Ladungen auch 
n-mal größer werden, so wird C0 dennoch weniger wirksam: 
v= n'*:pc ' i5! 
•-o i 
Druck 
lî 
li 
n-C 
C + - 
4^ -f -f 4- + ■+ 
V G 8 10 12 /V 
PlatícnzahL 
Fig. 6. 
Parallelschaltung 
von Quarzplatten. 
Fig. 7. Änderung der Span¬ 
nung mit der Anzahl der 
Quarzplatten. 
Je größer also die Plattenzahl n wird, um so mehr nähert sich V 
dem Endwert d • P/C, um so weniger Einfluß werden damit auch will¬ 
kürliche, geringe Schwankungen der Schaltkapazität C0 auf das Re¬ 
sultat haben. Die Fig. 7 zeigt eine von Meißner aufgenommene Abhängig¬ 
keit der mit Anordnung nach Fig. 3 gemessenen Spannung V, wenn die 
Plattenzahl nach und nach auf /7=12 vergrößert wurde. Bei n = 12 
ist ein Endwert erreicht. 
Präzisionsanordnungen zur Messung der piezoelektrischen 
Konstanten d. 
Nach Formel [4] ist die piezoelektrische Konstante d durch die 
Spannung V, den Druck P und die Kapazitäten C und C0 bestimmt. 
Die Spannung V ist mit den modernen Elektrometern bzw. Röhrenvolt¬ 
metern genügend genau zu messen. Wichtig beim Versuch ist, daß 
die Kapazitäten C und C0 unverändert bleiben, und daß auch 
der Druck P in seiner gesamten Größe ohne Druckverlust 
dem zu untersuchenden Kristallstück zugeführt wird. 
Ursachen zur Kapazitätsänderung sind darin zu suchen, daß durch 
das Aufsetzen des den Druck bestimmenden Gewichtes Verschiebungen 
der Elektroden zueinander, Durchbiegungen der Elektroden und Ver¬ 
rückungen der von den Elektroden zum Spannungsmesser führenden Zu-