Anordnung zur Messung der Ladungsverteilung
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Anordnung zur Messung der Ladungsverteilung über die
Kristalloberfläche (17)].
Zur quantitativen Untersuchung der Ladungsverteilung über die
Kristalloberfläche ist der in Fig. 12 dargestellte Apparat entwickelt worden.
Die Kristallplatte Qliegt auf einer kreisförmigen Plattform die mittels
des Griffes G um die vertikale Achse gedreht werden kann. Diese Ein¬
stellung ist an einer Skala E ablesbar. Die Längsbewegung der Platte
erfolgt durch die Spindel K.Auf die Kristallplatte drückt mit verschieden
einstellbarem Gewicht der Kupferkontakt Ai; seine Kontaktfläche hat eine
Größe von 0,1 mm2. Die Druckkammer ist mit einer geerdeten Schutz¬
hülle Bumgeben.
Der Kontaktstift kann zur flächenmäßigen Untersuchung des piezo¬
elektrischen Effektes durch eine Flächenelektrode ersetzt werden. Als
Spannungsmesser dient ein SO volts
Anordnung zur Untersuchung der piezoelektrischen Eigen¬
schaft von Quarzplatten [Dye (18)].
Dye benutzte bei der Prüfung der Eignung von Quarzplatten für
piezoelektrische Zwecke einen von ihm hierzu entwickelten Apparat, der
ebenfalls die punktweise Verteilung des piezoelektrischen Effektes zu
messen gestattete. Der Apparat besteht nach Fig. 13 aus einer Basis¬
fläche CD mit starkem Messingrahmen, die den kurzen Stahlzylinder G
von 2 mm Durchmesser trägt. Die zu untersuchende Quarzplatte H wird
waagerecht auf diesen schmalen Stahlzylinder gelegt und durch einen
leichten Druck des Stahlstiftes J angepreßt; es genügt hierfür das Eigen¬
gewicht des Stahlstiftes. Der Druck wird der Kristallplatte durch eine
kleine Stahlhalbkugel /, die unter Zwischenschaltung eines kleinen Bern¬
steinstückes K an dem Stahlstift J befestigt ist, zugeführt. Der Stahlstift J
kann in der Hülse F, deren Achse die genaue Verlängerung der Achse des
Zylinders G ist, auf- und niedergleiten. Das Druckgewicht L, das auf dem
